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-- 昭文社 -- 2026.2 -- 291.9

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所蔵

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
東区 一般 /291.9/しよ/ 480158283$ 一般書 可能 貸出中 iLisvirtual

館別所蔵

館名 所蔵数 貸出中数 貸出可能数
東区 1 1 0

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タイトル 不安の世代
副書名 スマホ・SNSが子どもと若者の心を蝕む理由
著者名 ジョナサン・ハイト /著, 西川 由紀子 /訳  
出版者 草思社
出版年 2026.1
ページ数等 477p
大きさ 20cm
分類(9版) 367.6  
分類(10版) 367.6  
内容紹介 最初のZ世代が10代になった直後に世界中で急増し始めた、10代のうつや自殺。「スマートフォン中心の子ども時代」を経験した子ども・若者の心の健康の悪化とその原因をデータで提示し、具体的解決策を示す。
著者紹介 ペンシルベニア大学で社会心理学の博士号を取得。ニューヨーク大学スターン・スクール・オブ・ビジネスの倫理リーダーシップ教授。道徳や政治心理学を専門とする。 
原書名 原タイトル:The anxious generation
テーマ 青少年問題 , 児童精神医学 , スマートフォン , ソーシャルメディア  
ISBN 4-7942-2819-2 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks
本体価格 ¥2800
特定資料種別 図書
URL https://www.library.city.hiroshima.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1110880233