資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

失敗から学ぶユーザインタフェース 　 貸出可

中村　聡史／著 -- 技術評論社 -- ２０１５．２ -- 007.6

  • 総合評価
    5段階評価の0.0
    (0)
  

所蔵

所蔵は 1 件です。予約は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
中央 閲Ｂ K/007.6/なか/モ 180271434U 一般書 可能 利用可

ページの先頭へ

館別所蔵

館名 所蔵数 貸出中数 貸出可能数
中央 1 0 1

ページの先頭へ

資料詳細

タイトル 失敗から学ぶユーザインタフェース
副書名 世界はＢＡＤＵＩであふれている
著者名 中村　聡史 ／著  
出版者 技術評論社
出版年 ２０１５．２
ページ数等 ８，２４７ｐ
大きさ ２３ｃｍ
分類(9版) 007.6  
分類(10版) 007.6  
内容紹介 世の中に溢れるＢＡＤＵＩ（バッドユーアイ）。２００超のＢＡＤＵＩを、写真と状況説明、ユーザの失敗理由とともに紹介。「使いにくいことの原因は何なのか」を考察する中で、ユーザインターフェースの知識を得られる書。
著者紹介 １９７６年長崎県生まれ。大阪大学工学研究科博士後期課程修了。博士（工学）。明治大学総合数理学部准教授。専門はユーザインターフェース。 
内容注記 ユーザインタフェース関係の書籍：ｐ２４２～２４３
テーマ ユーザーインターフェース（コンピュータ）  
ISBN 4-7741-7064-0 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
本体価格 ￥２９８０
特定資料種別 図書
URL https://www.library.city.hiroshima.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1103682936

ページの先頭へ