資料詳細

平木 昭夫/共著 -- オーム社 -- 1994.9 -- 428.8

  • 総合評価
    5段階評価の0.0
    (0)

所蔵

所蔵は 1 件です。予約は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
中央 参書庫 /428.8/H64/ 1395010801 一般書 可能 利用可

館別所蔵

館名 所蔵数 貸出中数 貸出可能数
中央 1 0 1

資料詳細

タイトル 表面・界面の分析と評価
シリーズ 応用物理学シリーズ
サブシリーズ 専門コース
著者名 平木 昭夫 /共著, 成沢 忠 /共著  
出版者 オーム社
出版年 1994.9
ページ数等 141p
大きさ 22cm
分類(9版) 428.8  
分類(10版) 428.8  
内容紹介 半導体技術の核となる半導体-金属界面での反応の分析・評価を軸に、著者の経験をふまえつつ新たな研究開発に向けた様々な示唆に富む内容となっている。
テーマ 半導体  
ISBN 4-274-12976-4 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
定価 ¥3398
本体価格 ¥3398
特定資料種別 図書
URL https://www.library.city.hiroshima.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1100433437