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1 件中、 1 件目
表面・界面の分析と評価
貸出可
0
1
0
平木 昭夫/共著 -- オーム社 -- 1994.9 -- 428.8
総合評価
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所蔵
所蔵は
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所蔵館
所蔵場所
請求記号
資料コード
資料区分
帯出区分
状態
中央
参書庫
/428.8/H64/
1395010801
一般書
可能
利用可
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館別所蔵
館名
所蔵数
貸出中数
貸出可能数
中央
1
0
1
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資料詳細
タイトル
表面・界面の分析と評価
シリーズ
応用物理学シリーズ
サブシリーズ
専門コース
著者名
平木 昭夫
/共著,
成沢 忠
/共著
出版者
オーム社
出版年
1994.9
ページ数等
141p
大きさ
22cm
分類(9版)
428.8
分類(10版)
428.8
内容紹介
半導体技術の核となる半導体-金属界面での反応の分析・評価を軸に、著者の経験をふまえつつ新たな研究開発に向けた様々な示唆に富む内容となっている。
テーマ
半導体
ISBN
4-274-12976-4
定価
¥3398
本体価格
¥3398
特定資料種別
図書
URL
https://www.library.city.hiroshima.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1100433437
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